a-正常面網,       b-刃型位錯,       c-螺型位錯

　　主要從各自特點區別：

　　刃型：滑移方向與位錯線垂直，多半個原子面，位錯線可為曲線。

　　螺型：滑移方向與位錯線平行，呈螺旋狀，位錯線直線。

　　由于位錯的存在對晶體的生長，雜質在晶體中的擴散，晶體內鑲嵌結構的形成及晶體的高溫蠕變性等一系列性質和過程都有重要影響。

　　晶體位錯的研究方法：通常用光學顯微鏡，X光衍射電子衍射和電子顯微鏡等技術進行直接觀察和間接測定。

　　位錯具有以下基本性質：

　　(1)位錯是晶體中原子排列的線缺陷，不是幾何意義的線，是有一定尺度的管道。

　　(2)形變滑移是位錯運動的結果，并不是說位錯是由形變產生的，因為一塊生長很完事的晶體中，本身就存在很多位錯。

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